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BA-100 OpticsXRF鍍層測厚儀

元素測量范圍：13號鋁元素到92號鈾元素

  • 類 別：
  • 測厚儀
  • 型 號：
  • BA-100
  • 訂貨號：
  • TP0000840

商品名稱：BA-100 OpticsXRF鍍層測厚儀

  • 貨號：TP0000840

B系列可滿足以下類型用戶的需求：

◆ 樣品測試量相對較小

◆ 樣品僅需測量一個位置

◆ 大型線路板鍍層的抽檢

◆ 預算有限但希望日后儀器性能能有所提升

◆ 保證符合IPC-4552A，4553A，4554和4556

◆ ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497


產品規格

◆ 元素測量范圍：13號鋁元素到92號鈾元素

◆ X射線管：50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管

◆ 探測器：190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器

◆ 分析層數及元素數：5層（4層+基材） 每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素

◆ 濾波器/準直器：4位置一次濾波器/單規格準直器

◆ 焦距：激光固定焦距（可選多焦點）

◆ 數字脈沖處理：4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正

◆ 計算機：英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

◆ 相機：1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率

◆ 視頻放大倍率：30x：標準45x：可選

◆ 電源：150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz

◆ 重量：34kg

◆ 馬達控制/可編程XY平臺：不可用

◆ 延伸可編程XY平臺： 不可用

◆ 樣品倉尺寸：高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：335mm（13"）

◆ 外形尺寸：高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）