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PS50型 三維表面形貌儀

掃描范圍：50×50（mm）;掃描速度：20mm/s

  • 類 別：
  • 激光干涉儀
  • 型 號：
  • PS50
  • 訂貨號：
  • TP0000849

商品名稱：PS50型 三維表面形貌儀

  • 貨號：TP0000849


產品簡介

   PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設備，采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器性價比高，可用于取代傳統的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。


產品特性

◆ 采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率

◆ 測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高

◆ 測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…)；

◆ 尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面

◆ 不受環境光的影響

◆ 測量簡單，樣品無需特殊處理

◆ Z方向,測量范圍大：為27mm


主要技術參數

◆ 掃描范圍：50×50（mm）

◆ 掃描步長：0.1μm

◆ 掃描速度：20mm/s

◆ Z方向測量范圍：27mm

◆ Z方向測量分辨率：2nm


產品應用

MEMS、半導體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。


主要用于

◆ 性價比高，適合科研單位 

◆ 取代傳統的探針式形貌儀及干涉式形貌儀