FM-Nanoview1000AFM 主要功能特點(diǎn)
掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；
精密激光及探針定位裝置，更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡(jiǎn)單方便；
采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
馬達(dá)自動(dòng)脈沖控制驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；
高精度樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；
帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針樣品掃描區(qū)域；
模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；
集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用；
彈簧懸掛式防震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)。
友好的軟件界面和操作功能
1. 多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
2. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測(cè)量功能；
3. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
4. 可任意選擇樣品起始掃描角度；
5. 激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
6. 針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；
7. 可任意定義掃描圖像的色板功能；
8. 支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
FSM-AFM操作軟件主要功能特點(diǎn)
1、可實(shí)時(shí)觀測(cè)樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；
3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；
4、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測(cè)量功能；
6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
7、可任意選擇樣品起始掃描角度；
8、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
9、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；
10、可任意定義掃描圖像的色板功能；
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
原子力顯微鏡廣泛的應(yīng)用
技術(shù)參數(shù)
| 序號(hào) | 名 稱 | 參 數(shù) |
| 1 | 工作模式 | 接觸、摩擦力(可選配輕敲、相位、磁力、靜電力) |
| 2 | 樣品尺寸 | Φ≤90mm；H≤20mm |
| 3 | 最大掃描范圍 | 橫向20um，縱向2um |
| 4 | 掃描分辨率 | 橫向0.2nm，縱向0.05nm |
| 5 | 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
| 6 | 掃描控制 | XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A |
| 7 | 數(shù)據(jù)采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
| 8 | 掃描角度 | 任意 |
| 9 | 樣品移動(dòng)范圍 | 0～20mm |
| 10 | 馬達(dá)趨近脈沖寬度 | 10±2ms |
| 11 | 光學(xué)放大倍數(shù) | 4X |
| 12 | 光學(xué)分辨率 | 2.5um |
| 13 | 圖像采樣點(diǎn) | 256×256，512×512 |
| 14 | 反饋方式 | DSP數(shù)字反饋 |
| 15 | 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
| 16 | 計(jì)算機(jī)接口 | USB2.0 |
| 17 | 運(yùn)行環(huán)境 | 運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng) |
