商品名稱:FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡
FM-Nanoview1000AFM 主要功能特點
掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;
精密激光及探針定位裝置,更換探針及調節光斑簡單方便;
采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
馬達自動脈沖控制驅動樣品垂直接近探針,實現掃描區域精確定位;
高精度樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區域;
帶光學定位的CCD觀測系統,實時觀測與定位探針樣品掃描區域;
模塊化的電子控制系統設計,便于電路的持續改進與維護;
集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統使用;
彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,抗干擾能力強。
友好的軟件界面和操作功能
1. 多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖;
2. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
3. 可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域;
4. 可任意選擇樣品起始掃描角度;
5. 激光光斑檢測系統的實時調整功能;
6. 針尖共振峰自動和手動搜索功能;
7. 可任意定義掃描圖像的色板功能;
8. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能;
9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正;
FSM-AFM操作軟件主要功能特點
1、可實時觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像;
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式;
3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512;
4、多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖;
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
6、可進行掃描區域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區域;
7、可任意選擇樣品起始掃描角度;
8、激光光斑檢測系統的實時調整功能;
9、針尖共振峰自動和手動搜索功能;
10、可任意定義掃描圖像的色板功能;
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能;
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正;
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
原子力顯微鏡廣泛的應用
技術參數
序號 | 名 稱 | 參 數 |
1 | 工作模式 | 接觸、摩擦力(可選配輕敲、相位、磁力、靜電力) |
2 | 樣品尺寸 | Φ≤90mm;H≤20mm |
3 | 最大掃描范圍 | 橫向20um,縱向2um |
4 | 掃描分辨率 | 橫向0.2nm,縱向0.05nm |
5 | 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
6 | 掃描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
7 | 數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
8 | 掃描角度 | 任意 |
9 | 樣品移動范圍 | 0~20mm |
10 | 馬達趨近脈沖寬度 | 10±2ms |
11 | 光學放大倍數 | 4X |
12 | 光學分辨率 | 2.5um |
13 | 圖像采樣點 | 256×256,512×512 |
14 | 反饋方式 | DSP數字反饋 |
15 | 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
16 | 計算機接口 | USB2.0 |
17 | 運行環境 | 運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統 |
化繁就簡 集成方案
售后無憂 服務周到
品類齊全 質量優先
專業選型 技術支持
周一至周日8:00-18:00
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